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HF-Testadapter mit SMA-Anschluss

HF-Testadapter mit SMA-Anschluss

HF-Testadapter mit SMA-Anschluss

Um BGAs, LGAs und QFNs unter Hochfrequenzbedingungen zu testen, stellt Ironwood Electronics einen Testadapter mit SMA Anschlüssen vor. Der Prüfling wird durch Federkontakte, die in Bezug auf parasitäre Induktivitäten für diese Anwendung optimiert sind, kontaktiert. Auf einer Leiterplatte werden alle Signale zu den äußeren Anschlüssen geführt, sodass die Signale für den Test zugänglich sind.

Um den Highspeed-Anforderungen gerecht zu werden, sind alle Leitungslängen minimiert und die Signale als differentielle Paare herausgführt. Das Leiterplattendesign bietet durch den Einsatz von blind und buried Vias niedrigste Induktivität und Kapazität und einen kontrollierten Wellenwiderstand, was wiederum für die Signalintegrität äußerst wichtig ist. Transmitter und Receiver des Testers werden an vier SMA-Buchsen angeschlossen.

Die HF-Testadapter stehen für BGAs, LGAs und QFNs im Raster 0,35 mm und größer zur Verfügung. Der Temperaturbereich ist von -35 bis +125°C spezifiziert.

Weitere Informationen bei:
EMC electro mechanical components GmbH
email: info(at)emc.de